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原位X射线光电子能谱仪（原位XPS）
满意度：99%
仪器型号Thermo SCIENTIFIC ESCALAB Xi+；PHI5000VeraProbeIV
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服务周期3-6个工作日
测试须知
注意：原位测试根据实验条件具体报价，请填好信息后下单结算（不用付款）联系技术顾问沟通改价；样品是用胶带固定到样品台上，会有污染或损坏/损失，所以不建议回收样品！
1. 测试默认单色化Al靶（Al Kα source），能量1486.68eV；
2. 液体样品需制好样干燥后再寄送；易氧化的样品建议手套箱制样，需真空包装送样；块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样，接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染，测试结果可能会有误差；
3. XPS是高真空环境测试的，所以要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明；
4. 不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品；不接含有放射性元素的样品；
5. 原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；
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项目介绍
X射线入射样品的表面，激发出轨道芯能级中的电子，叫做光电子：入射源的能量等于光电子的动能和结合能之和，不同元素不同轨道岀射的光电子具有不同的特征结合能信息，因此可以用结合能的数值来表征不同的元素和化学态信息。原位 XPS 是在真实反应条件（如温度、压力、气氛）下对材料进行 X 射线光电子能谱（XPS）分析的技术，核心是突破传统XPS对超高真空环境的依赖，实现对材料表面化学状态的动态追踪。
XPS可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后再采谱，得到深层的元素信息；XPS定量为半定量数据。
样品要求
1. 样品状态：要求块状、薄膜、粉末样品；
2. 粉末样品：20-30mg；
3. 块状/薄膜样品：尺寸小于10*10*3mm，最佳尺寸小于5*5*3mm；需标记清楚测试面；
4. 液体样品：需制好样干燥后再测试；制样方法：(悬浊)、离子液体、膏状等样品可滴到Si片、聚乙烯/聚丙烯、金属片、滤膜、滤纸、树脂、海绵等固体基片上晾干或冷冻干燥后上机测试（注意正确选择基底，避免干扰）。
结果展示
常见问题
1. XPS谱峰校正标准是什么？
答：一般是以C-C峰284.8ev进行校正的，总谱、分谱是不同的测试方法，所有不是一起校正的，只校正分谱数据，总谱不用校正；价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。
2. 单个元素如果测有不同轨道的谱图，定量以哪个为准呢？
答：定量时以元素的特征轨道谱图为准，如果存在多个轨道，切忌重复计算；若不同元素间轨道有重合，一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。
咨询热线
18700919747