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测试须知
1. 粉末样品需均匀，粒度小于200目。一般采用压片法或熔片法制备，压片法样品量大于5g，厚度3-5mm，且需干燥处理，压片成形性要好；熔片法样品量为0.5-2g，熔片法不能测试含有金属单质及易挥发的样品；
2. 块体样品需均匀，表面平整、光洁、无裂纹、无污染，能在真空下分析，尺寸通常要求大小在10-45mm之间，厚度小于20mm；
3. 适合无机样品的测试，一般是半定量测试，测到的都是元素含量，无法区分元素价态；定性测试元素F-U，测不了F以前的元素。
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项目介绍
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称XRF光谱仪）是一种快速的、非破坏式的物质测量仪器，用高速电子轰击原子的内层电子，使之处于高激发状态，同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道，在此过程中会伴随着以电磁波形式释放X射线，用X射线去轰击别的原子的内层电子，同样可产生X射线，这种X射线的能量较一次X射线低，波长也较长，称为二次X射线或X射线荧光，各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，可以作为定性分析的依据，而元素受激发射出来的特征X射线荧光的强度则取决于该元素的含量，这是定量分析的依据。
样品要求
1. 粉末样品需均匀，粒度小于200目。一般采用压片法或熔片法制备，压片法样品量大于5g，厚度3-5mm，且需干燥处理，压片成形性要好；熔片法样品量为0.5-2g，熔片法不能测试含有金属单质及易挥发的样品；
2. 块体样品需均匀，表面平整、光洁、无裂纹、无污染，能在真空下分析，尺寸通常要求大小在10-45mm之间，厚度小于20mm。
结果展示
常见问题
1. 测量结果不准确可能的原因？
答：理论上仪器的检测限为ppm—100%，但实际上元素含量低于1%时测量就会存在误差，结果只能做为参考，粉末样品颗粒大的必须磨成粉，如果采用压片法，需要和黏结剂（常用硼酸、石蜡等）一起压片，样品量需确保至少在3g以上，样品量太少，会导致结果不准确。
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