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测试须知
1. 样品要求：块体样品长宽处于5-25mm，高不超过5mm；
2. 特别注意：立方结构需要3个晶面才可分析出全套数据，密排六方结构需要4个晶面才可分析出全套数据；需要注明具体物相及其晶面位置；
3. 需提前注明轧制RD方向；
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项目介绍
一般而言，多晶体各晶粒在空间的取向是任意的，各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工，或者其他一些冶金，热处理过程后（如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等），多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态，呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构，或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用，确定样品的织构。
样品要求
此测试主要适用于薄膜样品和块体样品。样品的长宽高建议在30*20*10mm以内。
结果展示
常见问题
1. 样品峰信号不好，测试时候有没有什么改善方法呢？
建议只扫出峰位置，这样强度和峰形会较好一些；
2. XRD测试薄膜样品，对膜厚有什么要求呢？
XRD常规模式要求膜厚必须均匀，有些薄膜不均匀，两边厚中间薄是会影响峰强度的；
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