我的位置：形貌表征 > 预约详情
场发射扫描电镜（SEM）
满意度：100%
仪器型号JSM-7610F-Plus，JSM-7900F，蔡司Gemini 360，蔡司Sigma 300，JEOL JXA-iSP100
预约次数3次
服务周期0.5-3.0个工作日
测试须知
1. 样品要求：
（1）粉末、液体、薄膜、块体均可测试；
（2）粉体需10mg左右；块体长宽高尽量在10mm以内（最大不超过25mm），多孔样品越小越好；液体样品1ml左右（液体上机前务必可以完全干燥）；
（3）磁性说明：不含铁钴镍锰是无磁，含有铁钴镍锰元素但磁铁吸不上来是弱磁，磁铁可以吸上来是强磁；
（4）要求样品无毒、无放射性、干燥、无污染、热稳定性好、耐电子束轰击；送检样品务必保证信息真实准确，若隐瞒实际信息，导致设备损坏或人员受伤，需承担相应责任；
2. 制样说明：
（1）为保证拍摄效果，强磁性和导电性差的样品，建议喷金；
（2）请说明或标记好待测面；若拍摄截面，请说明截面制备方式或自行制备；
（3）粉体样品，一般直接粘到导电胶上测试，如果需要超声分散制样，请说明溶剂和超声时间；
3. 注意事项：
（1）能谱测试需要原始形貌图及原始数据的，请备注说明；
（2）不同设备的倍数有一定区别，为保证得到满意的效果，请提供形貌参考图及能谱位置说明，若无图参考，请用文字详细清晰描述；
（3）我们会根据要求和实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌；常规倍数可达5w-10w，最大20w倍，但实际效果和样品性质有关，若样品有磁性或导电性差，高倍下不能保证好的效果，敬请理解！
4. 如有其他疑问，请提前联系沟通。
展开全部 ∨
收起 ∧
项目介绍
扫描电子显微镜（SEM）是一种基于电子束与样品表面相互作用的高分辨率成像仪器。其工作原理是通过收集二次电子和背散射电子信号生成表面形貌，达到对物质微观形貌表征的目的，结合能谱探测器可进行元素分析。
样品要求
1. 粉末样品：样品量需要提供大概10mg；
2. 液体样品：样品量1ml，溶剂和溶液不能发生反应，溶液务必可以干燥，并选择相应的基底；
3. 块体/薄膜样品要求：长宽高尽量在10mm以内（最大不超过25mm）；
4. 多孔材料等需要抽真空时间非常长的样品：直径≤5mm，厚度≤5mm；
5. 需要脆断的样品要求：尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，较厚的样品建议尺寸准备大些。
结果展示
常见问题
1. 喷金的原因和影响？
答：样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积，一定程度后就出现反复的充电放电现象，最终影响电子信号的传递，进而影响形貌观察。喷金可以使样品表面导电增强，避免积电现象，改善图片效果。
喷金后样品表面只有几纳米到十几纳米厚度的覆盖层，对于看形貌来说，几乎没有影响，对于能谱来说，可能会对峰位置接近的元素造成影响。
2. 二次电子模式和背散射模式有什么不同？
答：二次电子对形貌敏感，反映的是样品的表面形貌，立体感强；背散射电子衬度主要反映样品表面原子序数的差异，表征相分布。
咨询热线
18700919747