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测试须知
1. 薄膜、块状样品要求尺寸越小越好，不超过8mm，厚度不超过2mm；
2. 粉末样用量要求20mg以上，测试结果不一定准确，本机构不做解释和复测处理。如果下单，默认接受风险；建议旋涂制备成薄膜或压片；
3. 样品需导电性良好（表面电阻＜10MΩ），要求表面分布均匀，清洁无污染；
4. 测试氩离子刻蚀后的表面电子结构请提供具体刻蚀参数或刻蚀深度；
5. 不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品；
6. 同一样品测试多个区域，需按新样品计费。
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项目介绍
紫外光电子能谱仪（Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy, UPS）是一种利用紫外光激发样品表面电子，使其吸收光子能量后逸出，成为光电子并分析其能量分布，从而研究材料电子结构的精密分析仪器，主要应用在半导体与光电材料、表面科学与催化、有机材料与器件、功能纳米材料等材料材料电子结构的深度解析。
样品要求
1. 薄膜、块状样品要求尺寸越小越好，不超过8mm，厚度不超过2mm；
2. 粉末样用量要求20mg以上，测试结果不一定准确，本机构不做解释和复测处理。如果下单，默认接受风险；建议旋涂制备成薄膜或压片；
3. 样品需导电性良好（表面电阻＜10MΩ），要求表面分布均匀，清洁无污染；
4. 不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品。
结果展示
常见问题
1. 测试结果和文献中不符？
答：可能的原因：
1）备与处理有差异，纯度或掺杂浓度不同；
2）样品表面吸附的气体（H₂O、CO₂）、污染物或刻蚀残留引入额外峰掩盖特征信号；
3）激发源与仪器参数设置不同；
4）真空度不足（如>10⁻⁸ mbar），导致表面快速吸附气体，改变电子结构；样品导电差会积累电荷，导致结合能整体偏移（常见偏移0.5-2eV）；
5）背景扣除方式（线性、Shirley法）、峰形函数（Gaussian/Lorentzian混合）、分峰策略的不同会导致谱图差异；
6）样品制备不均匀。
2. 偏压和无偏压的数据分别时候时候用？
答：无偏压模式用于验证样品导电性、测定价带顶；偏压模式用于测定功函数、价带顶，验证半导体类型（P型/N型）。
咨询热线
18700919747