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测试须知
注意：当测试温度为高温时需根据实验条件进行具体报价，请填好信息后下单结算（不用付款）联系技术顾问沟通进行改价。
1. 同轴法测试粉末样品至少100mg，寄样时请标注好样品和石蜡比例，块体样品尺寸要求内径3.04 mm，外径7mm，厚度2±0.01m，如果需要块体加工需额外收费，请提前联系技术顾问确认，实验室只能按质量浓度配比制样；
2. 波导法测试块体样品，不同频段范围对应不同尺寸要求，样品表面尽应量平整光滑、无弯曲，尺寸应比标准尺寸稍微大一点，如果需要机床加工需额外收费，请提前联系技术顾问确认；测试屏蔽性能样品长宽应比标准尺寸大2-3mm，厚度小于0.5mm的薄膜，是贴在波导片中间测的，测试屏蔽性能比较准确，如果是看电磁参数（复介电常数+复磁导率）慎重，样品大小比标准尺寸大一些，尽量在20*30mm以上，以免出现漏磁，造成数据偏差。
标准尺寸具体如下（宽*长，厚度不限）：
1.13-1.73GHz：82.4*164.8mm
1.72-2.61GHz：54.46*108.92mm
2.60-3.95GHz：33.89*71.84 mm
3.94-5.99GHz：22.0*47.25mm
5.38-8.17GHz：15.75*34.70mm
8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm
12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm
18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm
26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；
3. 弓形法测试块体样品，测试2-40GHz要求尺寸为180*180mm，需要1-2GHz要求尺寸为300*300mm，样品表面尽应量平整光滑、无弯曲，测试角度范围为8-75°，下单时请备注好测试角度，否则默认按8°测试；
4. 自由空间法测试块体样品，测试2-40GHz要求尺寸为120*120mm，需要1-2GHz要求尺寸为300*300mm，样品厚度约2-5mm，表面尽应量平整光滑、无弯曲；
5. 准光腔法测试样品需要厚薄均匀，介电常数小于20，长大于40mm，宽大于40mm，厚度小于1mm；
6. 默认只出一条数据曲线；
7.导电性太好的样品建议测试屏蔽效能，测试电磁参数可能会有异常，请慎重选择！
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项目介绍
矢量网络分析仪（Vector Network Analyzer，VNA）通过精确测量射频/微波网络的幅度和相位信息，来表征被测器件（DUT）的反射和传输特性，实现对微波网络S参数的精确测量，主要应用在射频微波、电子通信、材料科学以及量子计算器件表征等领域。
样品要求
1. 同轴法测试粉末样品至少100mg，寄样时请标注好样品和石蜡比例，块体样品尺寸要求内径3.04 mm，外径7mm，厚度2±0.01m，如果需要块体加工需额外收费，请提前联系技术顾问确认，实验室只能按质量浓度配比制样；
2. 波导法测试块体样品，不同频段范围对应不同尺寸要求，样品表面尽应量平整光滑、无弯曲，尺寸应比标准尺寸稍微大一点，如果需要机床加工需额外收费，请提前联系技术顾问确认；测试屏蔽性能样品长宽应比标准尺寸大2-3mm，厚度小于0.5mm的薄膜，是贴在波导片中间测的，测试屏蔽性能比较准确，如果是看电磁参数（复介电常数+复磁导率）慎重，样品大小比标准尺寸大一些，尽量在20*30mm以上，以免出现漏磁，造成数据偏差。
标准尺寸具体如下（宽*长，厚度不限）：
1.13-1.73GHz：82.4*164.8mm
1.72-2.61GHz：54.46*108.92mm
2.60-3.95GHz：33.89*71.84 mm
3.94-5.99GHz：22.0*47.25mm
5.38-8.17GHz：15.75*34.70mm
8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm
12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm
18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm
26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；
3. 弓形法测试块体样品，测试2-40GHz要求尺寸为180*180mm，需要1-2GHz要求尺寸为300*300mm，样品表面尽应量平整光滑、无弯曲，测试角度范围为8-75°，下单时请备注好测试角度，否则默认按8°测试；
4. 自由空间法测试块体样品，测试2-40GHz要求尺寸为120*120mm，需要1-2GHz要求尺寸为300*300mm，样品厚度约2-5mm，表面尽应量平整光滑、无弯曲；
5. 准光腔法测试样品需要厚薄均匀，介电常数小于20，长大于40mm，宽大于40mm，厚度小于1mm。
结果展示
结果以文件形式展现。
常见问题
1. 简述反射系数和传输系数测量原理？
反射系数测量：VNA内部信号源产生的信号经功分器分为两路，一路作为参考信号，另一路通过定向耦合器传输到被测器件（DUT）。DUT输入端口反射回来的信号由端口1的接收机接收，VNA将此反射信号与参考信号进行幅度和相位比较，计算出反射系数（S11参数），同理可获得端口2的反射系数（S22参数）。
传输系数测量：端口1发射的信号通过DUT后在端口2被接收，端口2的接收机捕获传输信号，VNA将其与耦合器提取的参考信号进行幅度和相位比较，计算出传输系数（S21参数），代表DUT的传输特性。此外，还可测量S12参数，即从端口2输入信号，测量从端口1输出的传输特性。
2. 同轴法、波导法以及弓形法的区别？
三种标准电磁性能测试方案，全面覆盖不同形态材料的表征需求：同轴法适用于粉末或复合材料，通过将样品与石蜡混合制成同轴环，可在2-18GHz宽频范围内直接获取电磁参数（复介电常数与复磁导率）及S参数，并计算理论反射率；波导法面向可精密加工的树脂及块体复材，采用分段测试模式（覆盖8.2-40GHz多个波段），能够高精度测量电磁参数与S参数，适用于对尺寸精度要求严格的材料体系；弓形法则专为板材、涂层等实际构件设计，通过空间波辐射直接测量1-40GHz频段的平板反射率，虽不提供本征电磁参数，但能最真实地反映材料在实际应用中的电磁波反射特性。三种方法互为补充，共同构成从材料本征参数到宏观性能的完整测试体系。
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